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超声水浸C扫描检测系统水浸超声半导体检测 T扫焊接 空洞率钎着率 裂纹半导体元器件检测

发布时间:2024-01-06        浏览次数:0        返回列表
前言:C扫检测原理超声C扫描成像检测系统的一个核心部件是水浸点聚焦探头,点聚焦探头在高压窄脉冲的激励下,产生短的声脉冲,随后这些
超声水浸C扫描检测系统水浸超声半导体检测 T扫焊接 空洞率钎着率 裂纹半导体元器件检测

C扫检测原理

超声C扫描成像检测系统的一个核心部件是水浸点聚焦探头,点聚焦探头在高压窄脉冲的激励下,产生短的声脉冲,随后这些声脉冲被声透镜聚焦在一起,超声C 扫描成像检测系统的也称这个水浸点聚焦探头为“换能器”。

超声波C扫描成像技术可以一次同时扫描被检工件的不同深度层,从而可以完整地观测到工件内部缺陷(如分层缺陷在不同层面上的分布情况)。该技术是分析材料多层结构分布的重要的无损检测方法,可以很好地探测出空洞、分层和水平裂纹等。

(2)C 扫检测特点

超声水浸C 扫描成像检测系统采用全水浸耦合方式,利用高频超声波,无损、高精细、高灵敏度的检测焊接质量,生成可视化的检测图像结果,进行直观图形显示和评估。

根据工件形状、尺寸,系统提供运动机构及专用尺寸的水槽机械。系统提供相应超声C扫设置参数,让C扫检测图像更逼真。具体功能如下:

1)自动显示缺陷图像,缺陷大小和形状一目了然

2)自动统计缺陷大小、坐标、面积及缺陷面积百分比

3)A、B、C 扫描像显示并存储

1.4.2.主要技术指标

⑴ 检测灵敏度:

静态:2mm平底孔;

动态:2mm平底孔;

⑵ 重复扫描精度:0.1mm。

⑶ 检测速度:200mm/s。

⑷ 检测步进0~1mm可调。

⑸ 检测结果自动评估。

 


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